中国科学家实现1.36公里外毫米级高分辨成像技术

中国科学技术大学科研团队潘建伟、张强、许飞胡等人联合中国科学院西安光学精密机械研究所等机构，首次提出并验证了主动光学干涉成像技术与合成孔径高分辨技术的结合方案。实验通过主动光学强度干涉技术，在1.36公里外实现毫米级目标的高分辨成像，成像分辨率较单台望远镜提升约14倍，标志着远距离高分辨成像系统的重大突破。
该技术为遥感成像和空间碎片探测应用提供了创新解决方案，尤其在空间碎片探测领域，有望提升对微小太空目标的监测精度。研究团队表示，这一成果解决了传统干涉仪在复杂环境中的技术局限，为未来天文观测与国防安全领域的技术发展奠定了基础。
相关研究成果已发表于国际权威期刊《物理评论快报》，研究由潘建伟量子研究团队主导，并得到国内外多家科研机构支持。实验数据表明，该系统的稳定性和分辨率均达到国际领先水平，为光学成像技术的工程化应用拓展了新方向。